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通道便攜式邏輯分析儀是一種用于檢測(cè)和分析數(shù)字電路中信號(hào)的測(cè)試儀器。它可以捕捉、存儲(chǔ)和分析多通道的數(shù)字信號(hào),從而幫助工程師診斷和解決復(fù)雜的電子問(wèn)題。通道便攜式邏輯分析儀的工作原理主要包括以下幾個(gè)步驟:1、信號(hào)采集:通過(guò)一組探針與被測(cè)設(shè)備(DUT)相連接,這些探針?lè)謩e連接到DUT的不同信號(hào)點(diǎn)。當(dāng)DUT運(yùn)行時(shí),它會(huì)實(shí)時(shí)采集各個(gè)信號(hào)點(diǎn)的狀態(tài)變化,將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)并存儲(chǔ)在內(nèi)部存儲(chǔ)器中。2、觸發(fā)設(shè)置:為了捕捉到感興趣的信號(hào)事件,需要設(shè)置一個(gè)觸發(fā)條件。這個(gè)條件可以是某個(gè)特定信號(hào)的變化,也...
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EMI測(cè)試接收機(jī)在醫(yī)療設(shè)備電磁兼容性測(cè)試中的角色隨著醫(yī)療技術(shù)的不斷進(jìn)步,醫(yī)療設(shè)備在提高患者護(hù)理質(zhì)量方面發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。然而,這些設(shè)備的普及也帶來(lái)了電磁兼容性(EMC)問(wèn)題。電磁干擾可能會(huì)影響醫(yī)療設(shè)備的正常運(yùn)行,甚至導(dǎo)致嚴(yán)重的醫(yī)療事故。因此,進(jìn)行有效的電磁兼容性測(cè)試對(duì)于確保醫(yī)療設(shè)備的安全性和可靠性至關(guān)重要。本文將探討EMI測(cè)試接收機(jī)在醫(yī)療設(shè)備電磁兼容性測(cè)試中的角色。電磁兼容性的重要性電磁兼容性是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中正常工作的能力,而不會(huì)對(duì)該環(huán)境中的任何其他設(shè)備產(chǎn)生...
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EMI測(cè)試接收機(jī)在汽車電子測(cè)試中的重要性隨著汽車工業(yè)的快速發(fā)展,汽車電子產(chǎn)品的數(shù)量和復(fù)雜性不斷增加。這些電子產(chǎn)品不僅提高了車輛的性能和舒適性,也帶來(lái)了電磁干擾(EMI)的問(wèn)題。電磁干擾可能會(huì)影響車輛的安全運(yùn)行,因此進(jìn)行有效的EMI測(cè)試變得至關(guān)重要。本文將探討EMI測(cè)試接收機(jī)在汽車電子測(cè)試中的重要性。電磁干擾的影響電磁干擾是指電子設(shè)備產(chǎn)生的無(wú)意輻射或傳導(dǎo)的信號(hào),這些信號(hào)可能會(huì)對(duì)其他設(shè)備的正常工作造成影響。在汽車中,由于電子設(shè)備的密集布置,EMI問(wèn)題尤為突出。例如,一個(gè)設(shè)備的發(fā)射...
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EMI測(cè)試接收機(jī)與頻譜分析儀的區(qū)別及選擇指南在現(xiàn)代電子工程和測(cè)試領(lǐng)域,電磁干擾(EMI)測(cè)試和頻譜分析是兩個(gè)不ke或缺的環(huán)節(jié)。它們分別由EMI測(cè)試接收機(jī)和頻譜分析儀完成。盡管這兩種設(shè)備在某些功能上有所重疊,但它們?cè)谠O(shè)計(jì)、性能和應(yīng)用方面存在顯著差異。本文將探討EMI測(cè)試接收機(jī)與頻譜分析儀之間的區(qū)別,并提供選擇指南。EMI測(cè)試接收機(jī)的特點(diǎn)EMI測(cè)試接收機(jī)是專門用于檢測(cè)和測(cè)量電子設(shè)備產(chǎn)生的電磁輻射的設(shè)備。它能夠捕捉到從低頻到高頻的各種電磁信號(hào),從而幫助工程師識(shí)別潛在的干擾源,并采取...
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半導(dǎo)體分析儀是一種在多個(gè)領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用的重要測(cè)試儀器,主要用于檢測(cè)材料中的雜質(zhì)元素、結(jié)晶缺陷等,以及分析半導(dǎo)體器件的性能參數(shù)。半導(dǎo)體分析儀在電子制造中扮演著至關(guān)重要的角色,其作用主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:1、測(cè)試和驗(yàn)證:用于測(cè)試和驗(yàn)證半導(dǎo)體器件(如二極管、晶體管、集成電路等)的性能參數(shù)。這些參數(shù)包括電流-電壓特性、電容-電壓特性、頻率響應(yīng)、噪聲特性等。通過(guò)對(duì)這些參數(shù)的測(cè)量,可以評(píng)估半導(dǎo)體器件的性能是否滿足設(shè)計(jì)要求,從而確保其在電子制造中的應(yīng)用效果。2、故障診斷:也可以幫助工程...
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掃描電子顯微鏡(SEM)作為一種高分辨率的微區(qū)形貌分析儀器,自上世紀(jì)60年代起迅速發(fā)展,已成為科學(xué)研究與工業(yè)檢測(cè)中的工具。其工作原理基于電子束與樣品表面的相互作用,通過(guò)激發(fā)并收集各種物理信號(hào),如二次電子、背散射電子等,來(lái)成像并表征樣品的微觀形貌與結(jié)構(gòu)。在SEM中,電子槍發(fā)射出高能電子束,這些電子在加速電壓的作用下,經(jīng)過(guò)電子透鏡聚焦后,以光柵式逐點(diǎn)掃描的方式作用于樣品表面。電子束與樣品相互作用時(shí),會(huì)激發(fā)出各種物理信號(hào),其中二次電子因?qū)悠繁砻嫘蚊裁舾卸粡V泛用于成像。這些信號(hào)被...
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寬帶矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是一種用于測(cè)量電子網(wǎng)絡(luò)(如放大器、濾波器、傳輸線等)的幅度和相位響應(yīng)的設(shè)備。它的基本原理是通過(guò)測(cè)量入射波、反射波和透射波的幅度和相位,來(lái)計(jì)算網(wǎng)絡(luò)的散射參數(shù)(S參數(shù))。這些參數(shù)可以用來(lái)描述網(wǎng)絡(luò)的增益、損耗、反射系數(shù)、群延遲等特性。寬帶矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的主要組成部分包括信號(hào)源、接收器、顯示器和處理器。信號(hào)源產(chǎn)生一定頻率范圍內(nèi)的射頻信號(hào),通過(guò)被測(cè)網(wǎng)絡(luò)后,接收器檢測(cè)到反射波和透射波的幅度和相位。然后,處理器根據(jù)這些信息計(jì)算出網(wǎng)絡(luò)的S參數(shù),并將結(jié)果顯示在顯示器上。為了實(shí)...
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無(wú)線連接測(cè)試儀是網(wǎng)絡(luò)工程師和技術(shù)人員用來(lái)診斷和維護(hù)無(wú)線網(wǎng)絡(luò)性能的重要工具。在無(wú)線網(wǎng)絡(luò)故障排查中,它的作用可以歸納為以下幾點(diǎn):1、信號(hào)強(qiáng)度測(cè)試:無(wú)線連接測(cè)試儀能夠測(cè)量無(wú)線接入點(diǎn)(AP)的信號(hào)強(qiáng)度,通常以接收信號(hào)強(qiáng)度指示(RSSI)或百分比表示。通過(guò)比較不同位置的RSSI值,可以確定信號(hào)覆蓋范圍和潛在的死區(qū)(信號(hào)弱的區(qū)域)。2、信道分析:也可以顯示當(dāng)前無(wú)線網(wǎng)絡(luò)環(huán)境中所有可用的信道以及它們各自的使用情況。這有助于識(shí)別信道重疊問(wèn)題,即相鄰的無(wú)線接入點(diǎn)使用相同或鄰近的信道,導(dǎo)致干擾和性...
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掃描電子顯微鏡操作技巧及改進(jìn)方法掃描電子顯微鏡(SEM)是一種強(qiáng)大的成像工具,廣泛用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域的微觀結(jié)構(gòu)分析。為了充分發(fā)揮SEM的性能并獲取高質(zhì)量的圖像,操作者需要掌握一系列操作技巧及持續(xù)改進(jìn)方法。本文將詳細(xì)介紹SEM的操作技巧和改進(jìn)方法,以幫助研究者更有效地進(jìn)行樣品分析。操作技巧1.樣品制備:樣品的制備對(duì)于獲得高質(zhì)量的SEM圖像至關(guān)重要。首先,確保樣品具有良好的導(dǎo)電性,對(duì)于非導(dǎo)電樣品,通常需要進(jìn)行金屬或碳涂層處理以減少充電效應(yīng)。其次,樣品應(yīng)盡可能干凈、...
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掃描電子顯微鏡及其應(yīng)用掃描電子顯微鏡(SEM)作為一種多功能的顯微成像工具,在科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中扮演著至關(guān)重要的角色。通過(guò)利用細(xì)聚焦的電子束掃描樣品表面,SEM能夠提供從納米到毫米尺度的高分辨率圖像,這對(duì)于材料表征、失效分析以及新材料的開發(fā)具有重要意義。本文將詳細(xì)介紹SEM的工作原理、關(guān)鍵組件以及其在各個(gè)領(lǐng)域中的應(yīng)用。工作原理SEM利用電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)來(lái)獲取圖像。當(dāng)一束高能電子聚焦于樣品表面時(shí),它們會(huì)與樣品原子相互作用,產(chǎn)生二次電子、背散射電子、特征X射線等信...
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現(xiàn)代掃描電子顯微鏡在材料表征中的多功能應(yīng)用掃描電子顯微鏡(SEM)作為一種強(qiáng)大的成像工具,在材料表征領(lǐng)域扮演著中心角色。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,現(xiàn)代SEM已經(jīng)發(fā)展成為一個(gè)多功能的平臺(tái),能夠提供從微觀結(jié)構(gòu)到化學(xué)成分的多方面信息。本文將探討現(xiàn)代SEM在材料表征中的幾種關(guān)鍵應(yīng)用,并分析其最xin技術(shù)和未來(lái)趨勢(shì)?,F(xiàn)代SEM的技術(shù)特點(diǎn)現(xiàn)代SEM集成了多種先進(jìn)技術(shù),如場(chǎng)發(fā)射電子槍(FEG)、高性能探測(cè)器和計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng),這些技術(shù)顯著提高了其分辨率、圖像質(zhì)量和分析速度。例如,F(xiàn)EG-SEM通過(guò)...
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